Verbum

СІМЕТРЫ́Я КРЫШТАЛЁЎ,

уласцівасць крышталёў заканамерна паўтараць аднолькавыя грані, рэбры, вяршыні або сумяшчацца з сабой пры паваротах вакол восі, у прамых і перавернутых адлюстраваннях, паралельных пераносах і інш.; аснова класіфікацыі крышталёў. Сіметрыя знешняй формы (агранкі) крышталя залежыць ад сіметрыі яго атамнай будовы або крышталічнай рашоткі, якая абумоўлівае сіметрыю яго фіз. уласцівасцей. Форма крышталя і сіметрыя ўнутр. яго будовы вызначаюцца з дапамогай элементаў сіметрыі. Гал. элемент С.к. — паваротныя восі сіметрыі 1—4-га і 6-га парадкаў, плоскасць люстэркавага адлюстравання і цэнтр сіметрыі. Перавернутыя адлюстраванні вызначаюцца інверсійнымі восямі і цэнтрам сіметрыі. Інверсійныя восі маюць тыя ж парадкі, што і асн. восі. Парадак паваротнай восі сіметрыі паказвае, колькі разоў крышталь сумяшчаецца з сабой пры павароце на 360° (напр., куб — 4 разы, 6-гранная прызма — 6 разоў). Плоскасць сіметрыі падзяляе крышталь на 2 палавіны, якія люстэркава адлюстроўваюцца. Восі і плоскасць праходзяць праз цэнтр сіметрыі, што ўяўляе сабой пункт унутры фігуры, адносна якога ўсе супрацьлеглыя падобныя элементы крышталя знаходзяцца на аднолькавай адлегласці. Існуюць таксама элементы С.к.: плоскасць слізготнага люстэркавага адлюстравання (камбінацыя адлюстравання ў плоскасці з адначасовай трансляцыяй) і вінтавая вось (сумяшчае паварот і трансляцыю ўздоўж восі павароту, мае 2-і—4-ы і 6-ы парадкі). Пэўная сукупнасць элементаў сіметрыі ў адным крышталі вызначае від (групу, клас) сіметрыі. Вядомы 32 віды размяшчэння элементаў сіметрыі ў трохмернай прасторы, вызначаныя ням. мінералогам І.​Геселем (1830), у больш строгай матэм. форме — рус. вучоным А.​В.​Гадаліным (1867). Віды сіметрыі групуюцца ў 7 крышталеграфічных сістэм (сінганій). Найб. сіметрычны від С.к. кожнай сінганіі наз. галаэдрычным. Крышталі аднаго мінералу маюць адзін від сіметрыі і пастаянны вугал паміж дзвюма адпаведнымі гранямі. С.к. вывучае крышталяграфія. З дапамогай С.к. вызначаюць мінералы і іх уласцівасці.

Літ.:

Современная кристаллография. Т. 1. Вайнштейн Б.К. Симметрия кристаллов. Методы структурной кристаллографии. М., 1979;

Егоров-Тисменко Ю.К., Литвинская Г.П., Загальская Ю.Г. Кристаллография. М., 1992.

В.​І.​Ярцаў.

т. 14, с. 386